Ученые из Университета Аделаиды (Австралия) нашли способ определять активность транзисторов в микросхеме с помощью терагерцового излучения.
Технология работает следующим образом: лабораторный прибор генерирует микроволновой сигнал с известными параметрами, после чего частотный удвоитель преобразует его в терагерцовую волну и направляет на микросхему. Когда чип включен и выполняет вычисления, переключение транзисторов отражается в сигнале, который возвращается на приемник и затем сравнивается с исходным. Это позволяет фиксировать очень тонкие изменения амплитуды и фазы — и тем самым отслеживать работу процессора в реальном времени.
В реальности ученым удалось наблюдать внутренние процессы во время работы чипа, а не после его выключения. По словам исследователей, это открывает новые возможности для диагностики и проверки чипов, чего ранее такими методами добиться было сложно.
При этом технология пока не готова к массовому применению: трудности возникают с многослойными чипами и 3D-структурами, где терагерцовое излучение не всегда позволяет понять, из какого именно слоя поступает сигнал. Также специалисты обращают внимание на риски безопасности: в будущем такой метод может быть использован для попыток считывания данных прямо во время работы процессора.
