Как сообщает EETimes, лаборатория Fujitsu разрабатывает программный симулятор некритических ошибок с предельным уровнем погрешности менее чем 15% относительно ошибок, генерируемых источником белого пучка нейтронов. Компания рассказала об этом на конференции International Electron Devices Meeting в Сан-Франциско в эту среду, 15 декабря.
Проблема некритических ошибок, полученных от нейтронов вторичных космических лучей, все больше проявляется с увеличением количества интегрированных в чип транзисторов. Например, когда интеграция SRAM достигает 8 Мбит, такие ошибки становятся ограничивающим фактором. "Из-за сложности корректировки некритических ошибок, возникающих в логических устройствах, очень важно точно измерять их", — сказал Йошихару Тосака (Yoshiharu Tosaka), исследователь технологий на основе кремня, работающий в Fujitsu Labs. Поэтому технология предсказания ошибок необходима для установления уровня ошибок на начальном этапе разработки. А для этого нужна симуляция с предельным уровнем ошибки в 20%.
Исследователи Fujitsu Labs из Исследовательского Центра ядерной физики университета Осака (Япония) использовали белый пучок нейтронов. Наряду с Fujitsu Laboratories, в этом же направлении с Центром сотрудничают Renesas Technology и Sony. Нейтронный белый пучок имеет энергию спектра, схожую с энергией атмосферных нейтронов на уровне моря, но в 100 млн. раз сильнее для ускоренных тестов.
Исследователи Fujitsu измеряли уровень некритических ошибок, воздействуя пучком нейтронов на 130- и 90-нм SRAM и "регистры-защелки" 130-нм в логических чипах, затем сравнивали результаты с симулятором. Концентрируя свою оценку вокруг площади стоков чипа, где собираются электрические заряды, вызванные нейтроном (которые и вызывают некритические ошибки), погрешность показаний симулятора уменьшилась до уровня ошибок в 15%.
Fujitsu объявил, что компания намеревается использовать этот симулятор на чипах, созданных по 65-нм технологии. Компания также планирует разработать устойчивые к таким ошибкам устройства для использования в 45-нм устройствах.