Электронная микроскопия

Учёные впервые «увидели» дефекты внутри максенов в 3D с помощью ИИ и электронной микроскопии

Учёные впервые «увидели» дефекты внутри максенов в 3D с помощью ИИ и электронной микроскопии

Новый метод впервые показывает, где именно находятся дефекты в многослойном материале и как они зависят от условий синтеза

Учёные впервые увидели атомные дефекты внутри транзисторов современных чипов

Учёные впервые увидели атомные дефекты внутри транзисторов современных чипов

Новый метод позволил обнаружить «мышиные укусы» в каналах шириной всего 15–18 атомов

Биологи получат более точные «снимки» клеток: точное «вырезание» упростит 3D-съёмку на наноуровне

Биологи получат более точные «снимки» клеток: точное «вырезание» упростит 3D-съёмку на наноуровне

Оптимизированная система наведения помогает точно выделять интересующие органеллы и комплексы, а не полагаться на многократные попытки

Новая методика электронной микроскопии позволяет наблюдать слои пространственного заряда в материалах аккумуляторов

Новая методика электронной микроскопии позволяет наблюдать слои пространственного заряда в материалах аккумуляторов

Шаг к устойчивому развитию и улучшению характеристик материалов аккумуляторов