Электронная микроскопия

Китай запустил серийный выпуск электронного микроскопа с разрешением 0,1 нм — он позволит изучать дефекты чипов на атомном уровне

Китай запустил серийный выпуск электронного микроскопа с разрешением 0,1 нм — он позволит изучать дефекты чипов на атомном уровне

Микроскоп TEM-F200 разработала компания CIQTEK. До сих пор рынок высокопроизводительных просвечивающих электронных микроскопов контролировали преимущественно зарубежные производители

Учёные нашли микроорганизм с неизвестным прежде способом размножения

Учёные нашли микроорганизм с неизвестным прежде способом размножения

Caledochytrium aldermanii не делится, а выращивает внутри материнской клетки сразу несколько дочерних, причём внутри некоторых из них уже формируется следующее поколение

Учёные впервые «увидели» дефекты внутри максенов в 3D с помощью ИИ и электронной микроскопии

Учёные впервые «увидели» дефекты внутри максенов в 3D с помощью ИИ и электронной микроскопии

Новый метод впервые показывает, где именно находятся дефекты в многослойном материале и как они зависят от условий синтеза

Учёные впервые увидели атомные дефекты внутри транзисторов современных чипов

Учёные впервые увидели атомные дефекты внутри транзисторов современных чипов

Новый метод позволил обнаружить «мышиные укусы» в каналах шириной всего 15–18 атомов

Биологи получат более точные «снимки» клеток: точное «вырезание» упростит 3D-съёмку на наноуровне

Биологи получат более точные «снимки» клеток: точное «вырезание» упростит 3D-съёмку на наноуровне

Оптимизированная система наведения помогает точно выделять интересующие органеллы и комплексы, а не полагаться на многократные попытки