Как сообщает источник, вчера IBM представила общественности новый метод создания рисунков на поверхности полупроводниковых подложек с использованием атомно-силовых микроскопов (АСМ или AFM, atomic force microscope), позволяющий контролировать поверхность на атомно-молекулярном уровне.
И хотя речь, конечно же, не идет о производстве молекулярных транзисторов в промышленных масштабах, это очередной шаг на пути к созданию принципиально новой элементной базы электроники для будущего. Кроме того, в IBM полагают, что новый метод позволит создавать наноскопические устройства для самых разнообразных применений: от исследования ДНК до проб крови. Довольно большая скорость работы модифицированного атомно-силового микроскопа может даже обеспечить возможность оперативного разделения биологических молекул в медицине.
Метод IBM похож на метод письма с использованием перьевой ручки, однако, в нем присутствует возможность дополнительного электронного контроля, подобно тому, как контролируется печать в струйных принтерах. Точность позиционирования «пера» (иголки АСМ), которым наносится «узор» из химического вещества на подложку, составляет 10 нм. Управление иголкой, находящейся на мембране-рычажке (судя по описанию, принцип работы иглы АСМ здесь во многом схож с принципом работы индивидуальной иглы Millipede) осуществляется электростатическим полем, что и обеспечивает высокую скорость работы (время задержки – тысячные доли секунды).