О сотрудничестве с компанией BAE Systems, специализирующейся на разработках в оборонной и аэрокосмической отраслях, объявила компания Achronix Semiconductor, выпускающая высокопроизводительные программируемые вентильные матрицы (FPGA). Условия соглашения предусматривают совместную разработку приборов FPGA с изменяемой конфигурацией, устойчивых к радиационному излучению. В проекте будет задействован 150-нм техпроцесс BAE Systems и опыт Achronix в проектировании FPGA.
Подписанию соглашения предшествовало успешное тестирование пробных чипов, изготовленных по нормам 150 нм, в которых использовалась технология Achronix Redundancy Voting Circuit (RVC). С помощью RVC удается защитить FPGA от воздействия эффектов SET и SEU, что повышает надежность их работы в составе систем, устанавливаемых на самолетах и космических аппаратах.
Эффект SET (Single-event transient) имеет место, когда заряд, накопленный в результате ионизации, разряжается в форме ложного сигнала в электронной цепи. Фактически, это электростатический разряд.
Эффект SEU (Single-event upsets) или эффект неустановившегося излучения в электронике заключается в смене состояния ячеек памяти или разрядов регистров, вызванной воздействием отдельного иона. Эффект не вызывает повреждения полупроводникового прибора, но может вызвать проблемы, если система не предусматривает средств восстановления от сбоев.
Программа совместной работы предусматривает создание первых в отрасли FPGA с изменяемой конфигурацией, устойчивых к SEU и SET, рассчитанных на тактовые частоты до 350 МГц.
Источник: Achronix Semiconductor