Компания SanDisk предложила использовать показатель Longterm Data Endurance (LDE), который сводит оценку ожидаемого срока службы твердотельного диска к одному числу. Компания надеется, что отрасль примет указанный подход в качестве стандарта de facto.
Общеизвестно, что относительно небольшое количество циклов записи флэш-памяти является ограничивающим фактором в распространении SSD. Отрасль испытывает недостаток единого, стандартного показателя долговечности устройств. На эту проблему недавно внимание профильный подкомитет отраслевой стандартизирующей организации JEDEC.
Активным членом подкомитета является крупнейший в мире производитель HDD Seagate, который в будущем году рассчитывает начать выпуск SSD. Более того, компания Seagate возглавляет усилия JEDEC по выработке стандартов тестирования SSD, включая методы оценки долговечности, надежности, производительности и срока хранения данных.
Ранее производители оперировали количеством циклов записи-стирания одного чипа NAND. Сейчас предстоит определить, как выполнить такое измерение для SSD, поскольку производители накопителей используют разнообразные контроллеры, в каждом из которых используется своя собственная схема распределения нагрузки, призванная оптимизировать время жизни устройства.
По мнению SanDisk, ключевым тестом при определении LDE должно стать измерение общего количества данных, которое можно записать в накопитель за весь срок его эксплуатации (соответствующая величина получила обозначение TBW — Terabytes written).
Пока неясно, будет ли принят подход SanDisk. Известно, что SanDisk проверила его в своих лабораториях и поделилась результатами с производителями ПК и ОС, связав их соглашением о неразглашении. Остается дождаться момента, когда заинтересованные стороны официально выскажут свое мнение о предложении SanDisk.
Источник: EE Times