Исследователи консорциума CRISP, в который входит четыре компании и два университета из Нидерландов, Германии и Финляндии, продемонстрировали чип с функциями самопроверки и самовосстановления на конференции DATE2011 в Гренобле. Считается, что такая функциональность будут востребована в микросхемах будущего, когда дальнейшая микроминиатюризация сделает компоненты и соединения более «хрупкими». Усилия CRISP направлены на разработку концепции управления ресурсами во время эксплуатации: непосредственно в ходе работы происходит проверка работоспособности ядер и связей между ними, при этом менеджер ресурсов динамические назначает задания работоспособным блокам.
Микроминиатюризация приводит к появлению все более оснащенных и высокопроизводительных мобильных устройств. Оборотной стороной медали является снижение надежности микросхем из-за того, что техпроцессы приблизились к физическим пределам, результатом чего стало уменьшение процента выхода годной продукции и «запаса прочности» готовых изделий.
Выход из ситуации может заключаться в создании микросхем, способных диагностировать внутренние нарушения и обходить их за счет избыточности. В частности, такой подход может пригодиться при выпуске многоядерных однокристальных систем: даже при наличии дефектов они пройдут контроль качества, поскольку будут способны полноценно функционировать. Более того, деградация чипа в процессе эксплуатации не приведет к отказам (до определенного порога, конечно), поскольку менеджер ресурсов будет выделять блоки и прокладывать связи между ними таким образом, чтобы сохранить работоспособность системы.
Источник: CRISP