Главная » Новости » 2007 » 07 » 23 23 июля 2007

FormFactor заявляет о прорыве в технологии тестирования чипов

По словам компании FormFactor, ее специалистам удалось разработать революционную технологию контактных датчиков, обеспечивающую охват всей площади пластины с очень высокой плотностью размещения контактов. По сравнению с сегодняшними возможностями, технология FormFactor обеспечивает десятикратное уменьшение шага (расстояния между контактами), и потенциально позволяет зондировать за один прием в 1000 раз больше точек на 300-мм пластине.

Увеличение плотности компоновки микросхем и уменьшение размеров элементов приводит к необходимости уменьшения физических размеров и увеличения количества контактов, используемых для тестирования. Детище специалистов FormFactor дает возможность радикально уменьшить расстояние между контактами – с 200 мкм до менее чем 20 мкм. В основе разработки – применение MEMS (microelectromechanical systems - микроэлектромеханические системы, микросхемы с крошечными механическими элементами).

Новую технологию можно использовать в производстве памяти, логических микросхем и однокристальных систем; в приложениях с тестированием по параметрическим критериям; при расположении контактов на периферии или по всей площади чипа.

Коммерциализация разработки ожидается в течение ближайших трех-пяти лет.

Источник: FormFactor

Оценить новость

Не работают комментарии или голосования? Читайте как почистить куки



июль
Пн
Вт
Ср
Чт
Пт
Сб
Вс
2007

Нашли ошибку на сайте? Выделите текст и нажмите Shift+Enter

Код для блога бета

Выделите HTML-код в поле, скопируйте его в буфер и вставьте в свой блог.